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某高科技公司 通信产品端口DDR3信号完整性Signal测试

2022-08-10 11:03:59

项目介绍

DDR3:双倍速率同步动态随机存储器(Dual Data Rate),其全称为DDR SDRAM,而DDR3则是DDR的第三代产品;测试主要分析DDR3CLKDQ0DQS0A0WECASRASCSODT等电气特性和时序。

 

测试治具

序号

名称

规格型号

数量

1

示波器

LeCroy SDA 845Zi-A

1

2

差分探棒4GHz

LeCroy D420

1

3

差分探棒3.5GHz

LeCroy D320

1

4

探头

LeCroy DX20-SI

2

5

单端探棒2.5GHz

LeCroy ZS2500

2

 

LeCroy SDA 845Zi-A简介

串行数据分析仪SDA845Zi-A集合了带宽(45 GHz)和采样率(120 GS/s),具有较高的信号保真性能。提供强大的波形分析工具集。可以将多种分析能力组合到一起形成一个独立的,关联的显示,如模拟信号,协议解码,眼图,测量参数,以及其它相关的信息等均能够被实时的、肩并肩的提供。提供了针对信号高度集成和全面的眼图及抖动分析。

 

LeCroy SDA 845Zi-A主要特性

高达45 GHz带宽和120 GS/s采样率

先进的示波器用户界面

低抖动测量噪底和*的时基稳定性

完整的串行数据分析,调试,验证及一致性工具

集成的50 Ω 和 1 MΩ输入实现了真正的连接和探测灵活性

集成的标准和用户自定义测量和函数功能提供了无与伦比的分析能力

多链路串行数据眼图,抖动,和串扰分析

实时去嵌,仿真,以及均衡的优越性能

软件可以对一系列标准执行自动化一致性测试并生成全面的测试报告,这些标准有:PCI Express、USB2, USB 3.0、DDR2、DDR3、SATA、MIPI、10/100/100 BASE-T、10GBASE-T、HDMI等

 

主要指标

带宽

45 GHz

存储深度

768 Mpts/Ch

采样率

120 GS/s

输入通道

4

垂直分辨率

8-bit

 

DDR3测试

  image.png

测试方式示意图

测试流程:

1. 找准存储模块的CLK、DQ_n、DQS_n、AD_n、CTRL测试点;

2. 将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay值为0;

3. Probe Cable的探针接到测试点上;

4. 在示波器设置中选择QualiPHY,并根据实际测试项目进行设置;

5. 使DUT正常工作,使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输;

6. 运行QualiPHY,获取测试数据。

 

 

测试数据和波形展示

image.png 

 

Clock Test

Part No.

Parameter

Criteria

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U5

Trigger

-

-

1

1

Informational Only

Clock Speed Grade

-

-

6.001e+08

T/s

Informational Only

tCK(avg)rise

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(avg)fall

-

-

3.333

ns

Informational Only

tCK(abs)rise,min

2.400

-

3.269

ns

Pass

tCK(abs)rise,max

-

3.400

3.392

ns

Pass

tCK(abs)fall,min

2.400

-

3.262

ns

Pass

tCK(abs)fall,max

-

3.400

3.398

ns

Pass

 

image.pngimage.png
image.pngimage.png

 

Electrical Test

Part No.

Parameter

Criteria

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U5

SlewR of DQ min

-

-

0.65682

GV/S

Informational Only

SlewR of DQS min

-

-

1.64008

GV/S

Informational Only

SlewR of CK min

-

-

1.32888

GV/S

Informational Only

SlewF of DQ min

-

-

0.68985

GV/S

Informational Only

VIH(ac) Min

925.0

-

1244

mV

Pass

VIL(ac) Max

-

575.0

186

mV

Pass

tDVAC Pos Min of DQS at AC175

34.0

-

1257

ps

Pass

tDVAC Neg Min of DQS at AC175

34.0

-

1143

ps

Pass

tDVAC Pos Min of CK at AC175

22.0

-

1172

ps

Pass

 

image.pngimage.png
image.pngimage.png

 

Timing Test

Part No.

Parameter

Criteria

Test Value

Unit

Results

Min.

Max.

DDR_U5

tDQSQ Max

-

200.0

392.2

ps

Fail

tQSH Min

380.0

-

391.1

mtCK(avg)

Pass

tQSL Min

380.0

-

495.0

mtCK(avg)

Pass

tQH Min

380.0

-

446.1

mtCK(avg)

Pass

tDQSCK max

-

503

822

ps

Fail

tDQSCK min

-511

-

397

ps

Pass

tDQSS min

-250.0

-

174.1

mtCK(avg)

Pass

tDQSH min

450.0

-

490.0

mtCK(avg)

Pass

tDQSH max

-

550.0

526.4

mtCK(avg)

Pass

 

image.pngimage.png
image.pngimage.png

   

案例要点

客户公司委托博达高速信号实验室对其DDR3口进行信号完整性评测,评测结果作为评估与改善产品电气特性方面性能的参考依据。

 

以优质的产品,优惠的价格,热忱的服务恭候您的光临

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