高速信号测试 电路板SI PI及接口一致性测试服务
电路板测试服务主要是单板的SI信号完整性测试、PI电源完整性测试、和各种接口一致性测试服务。
信号完整性（SI, Signal Integrity），定义为信号在电路中能以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲，信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现。
电源完整性（PI，Power Integrity），是确认电源来源及目的端的电压及电流是否符合需求。电源完整性涉及的层面包括芯片层面、芯片封装层面、电路板层面及系统层面。
博达实验室，工程师具有多年研究背景，测试手段很多，涉及的仪器也很多，因此熟悉各种测试手段的特点，以及根据测试对象的特性和要求，选用适当的测试手段，对于选择方案、验证效果、解决问题等硬件开发活动，都能够大大提高效率，起到事半功倍的作用。
主要特性
一、信号完整性SI主要测试项目：
Power test | Clock test | I2C test |
SPI Flash test | SMI test | Flash test |
JTAG test | CPLD test | UART test |
DDR2 test | DDR3 test | DDR4 test |
QSGMII test | XSGMII test | SGMII test |
RGMII test | PCIE2.0 test | PCIE3.0 test |
PCIE4.0 test | QSFP test | SFP+test |
SFP test |
二、电源完整性PI主要测试项目：
电压值（精度） | 缓启动电路参数 | 时序 |
噪声/纹波 | 电流和冲击电流 | 电压上下波形 |
三、接口一致性主要测试项目：
USB2.0 test | USB3.0 test | PCIE2.0 test |
PCIE3.0 test | PCIE4.0 test | sata2.0 test |
sata3.0 test | IEEE test | MIPI( DPHYCPHY ) test |
Display port test | HDMI test等测试 |
示波器主要参数
Tektronix TDS 5104B | Tektronix DPO5104 | LeCroy SDA845Zi-A | |
图片 | |
|
|
模拟带宽 | 1 GHz | 1 GHz | 45GHz |
采样率 | 5 GS/s | 5 GS/s | 120GS/s |
模拟通道 | 4 | 4 | 4 |
测试附件、治具一览表
SFP接口信号测试治具 | 40Gbps | |
SFP接口信号测试治具 | 10Gbps | |
IEEE测试治具 | Lecroy 10M/100M/1000M | |
IEEE测试治具 | Tektronix 10M/100M/1000M | |
USB2.0一致性测试治具 | Host/Divice | |
USB3.0/3.1一致性测试治具套装 | Intel Host/Divice GEN3 | |
PCIE一致性测试治具 | PCIE Host/Divice GEN3 |
|
测试应用举例
Ø Clock精度测试
测试流程：
1.找准待测试clock信号的测试点；
2.用Probe Cable将测试点连接至频谱仪信号采集通道上；
3.频谱仪设置:设置Center Freq.为待测试信号的标准值,Span.设置为100MHz,Count选项中选择1Hz使得测试结果精度为1Hz；
4.使DUT正常工作，频谱仪取值Marker:Max.值,记录测试结果。
测试方式示意图：
Ø Clock时序测试
测试流程：
1.找准待测试clock信号的测试点；
2.用Probe Cable将测试点连接至示波器采集通道上；
3.设置示波器测量相关参数；
4.使DUT正常工作，获得clock信号的测试数据。
测试方式示意图：
Ø I2C测试
测试流程：
1.找准待测试I2C的clock和data信号测试点；
2.将两根probe cable连接在示波器信号采集口上，设置其delay为0；
3.将Probe Cable的探针接在测试点上；
4.使DUT正常工作，获得I2C中clock和data信号的测试数据。
测试方式示意图：
Ø SPI时序测试
测试流程：
1.找准待测试clock信号的测试点；
2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay为0；
3.将Probe Cable的探针接在测试点上；
4.使DUT正常工作，获得SPI信号的测试数据。
测试方式示意图：
Ø MII测试
测试流程：
1.找准待测试MDC/MDIO信号的测试点；
2.将两根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay为0；
3.将Probe Cable的探针接在测试点上；
4.使DUT正常工作，获得MDC/MDIO信号的测试数据。
测试方式示意图：
Ø SGMII测试
测试流程：
1.找准待测试SGMII的RX信号测试点；
2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上；
3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上；
4.使DUT正常工作，获得SGMII信号的Eye Pattern测试数据。
测试方式示意图：
Ø DDR2测试
测试流程：
1.找准存储模块的DQ_n、DQS_n、AD_n、RAS、/CSn、Wen测试点；
2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上，设置其Delay值为0；
3.将Probe Cable的探针接到测试点上；
4.在示波器设置中选择QualiPHY，并根据实际测试项目进行设置；
5.使DUT正常工作，使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输；
6.运行QualiPHY，获取测试数据。
测试方式示意图：
Ø DDR3测试
测试流程：
1.找准存储模块的DQ_n、DQS_n、AD_n、RAS、/CSn、Wen测试点；
2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上，设置其Delay值为0；
3.将Probe Cable的探针接到测试点上；
4.在示波器设置中选择QualiPHY，并根据实际测试项目进行设置；
5.使DUT正常工作，使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输；
6.运行QualiPHY，获取测试数据。
测试方式示意图：
Ø SFP+测试
测试流程：
1.用SFP Connector Assembly Cable将DUT和示波器连接；
2.使DUT正常工作，通过console cable读取SFP+模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的；
3.获取SFP+信号的Eye Pattern测试数据。
测试方式示意图：
Ø QSFP测试
测试流程：
1.用QSFP Connector Assembly Cable将DUT和示波器连接；
2.使DUT正常工作，通过console cable读取QSFP模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的；
3.获取QSFP信号的Eye Pattern测试数据。
测试方式示意图：
Ø PCIe测试
测试流程：
1.找准待测试PCIe的TX和RX信号测试点；
2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上；
3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上；
4.使DUT正常工作，获得PCIe_RX/TX信号的Eye Pattern测试数据。
测试方式示意图：
1.高速信号测试
2.Spirent租赁
3.EMC测试场地
4.电磁兼容实验室
5.高低温测试实验室
6.SI信号完整性测试
7.以太网测试服务
8.POE测试仪器
