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高速信号测试 电路板SI PI及接口一致性测试服务

2022-07-29 10:11:51


高速信号测试 电路板SI PI及接口一致性测试服务

电路板测试服务主要是单板的SI信号完整性测试PI电源完整性测试、和各种接口一致性测试服务。

信号完整性(SI, Signal Integrity),定义为信号在电路中能以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲,信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题,尤其是在高速领域,数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现。

电源完整性(PIPower Integrity),是确认电源来源及目的端的电压及电流是否符合需求。电源完整性涉及的层面包括芯片层面、芯片封装层面、电路板层面及系统层面。

博达实验室,工程师具有多年研究背景,测试手段很多,涉及的仪器也很多,因此熟悉各种测试手段的特点,以及根据测试对象的特性和要求,选用适当的测试手段,对于选择方案、验证效果、解决问题等硬件开发活动,都能够大大提高效率,起到事半功倍的作用。

 

主要特性

一、信号完整性SI主要测试项目:

Power test

Clock test

I2C test

SPI Flash test

SMI test

Flash test

JTAG test

CPLD test

UART test

DDR2 test

DDR3 test

DDR4 test

QSGMII test

XSGMII test

SGMII test

RGMII test

PCIE2.0 test

PCIE3.0 test

PCIE4.0 test

QSFP test

SFP+test

SFP test



 

二、电源完整性PI主要测试项目:

电压值(精度)

缓启动电路参数

时序

噪声/纹波

电流和冲击电流

电压上下波形

 

三、接口一致性主要测试项目:

USB2.0 test

USB3.0 test

PCIE2.0 test

PCIE3.0 test

PCIE4.0 test

sata2.0 test

sata3.0 test

IEEE test

MIPI( DPHYCPHY ) test

Display port test

HDMI test等测试




示波器主要参数


Tektronix  TDS 5104B

Tektronix DPO5104

LeCroy SDA845Zi-A

图片

 image.png

image.png 



image.png


 

模拟带宽

1 GHz

1 GHz

45GHz

采样率

5 GS/s

5 GS/s

120GS/s

模拟通道

4

4

4


测试附件、治具一览表

SFP接口信号测试治具

40Gbps

 image.png

SFP接口信号测试治具

10Gbps

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IEEE测试治具

Lecroy 10M/100M/1000M

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IEEE测试治具

Tektronix 10M/100M/1000M

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USB2.0一致性测试治具

Host/Divice

 image.png

USB3.0/3.1一致性测试治具套装

Intel Host/Divice GEN3

 image.png

PCIE一致性测试治具

PCIE Host/Divice GEN3

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测试应用举例

Ø Clock精度测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.Probe Cable将测试点连接至频谱仪信号采集通道上;

3.频谱仪设置:设置Center Freq.为待测试信号的标准值,Span.设置为100MHz,Count选项中选择1Hz使得测试结果精度为1Hz

4.使DUT正常工作,频谱仪取值Marker:Max.,记录测试结果。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

 

Ø Clock时序测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.Probe Cable将测试点连接至示波器采集通道上;

3.设置示波器测量相关参数;

4.使DUT正常工作,获得clock信号的测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø I2C测试

测试流程:

1.找准待测试I2Cclockdata信号测试点;

2.将两根probe cable连接在示波器信号采集口上,设置其delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得I2Cclockdata信号的测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø SPI时序测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得SPI信号的测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø MII测试

测试流程:

1.找准待测试MDC/MDIO信号的测试点;

2.将两根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得MDC/MDIO信号的测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø SGMII测试

测试流程:

1.找准待测试SGMIIRX信号测试点;

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上;

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得SGMII信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø DDR2测试

测试流程:

1.找准存储模块的DQ_nDQS_nAD_nRAS/CSnWen测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay值为0

3.Probe Cable的探针接到测试点上;

4.在示波器设置中选择QualiPHY,并根据实际测试项目进行设置;

5.使DUT正常工作,使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输;

6.运行QualiPHY,获取测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø DDR3测试

测试流程:

1.找准存储模块的DQ_nDQS_nAD_nRAS/CSnWen测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay值为0

3.Probe Cable的探针接到测试点上;

4.在示波器设置中选择QualiPHY,并根据实际测试项目进行设置;

5.使DUT正常工作,使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输;

6.运行QualiPHY,获取测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø SFP+测试

测试流程:

1.SFP Connector Assembly CableDUT和示波器连接;

2.使DUT正常工作,通过console cable读取SFP+模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的;

3.获取SFP+信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 


Ø QSFP测试

测试流程:

1.QSFP Connector Assembly CableDUT和示波器连接;

2.使DUT正常工作,通过console cable读取QSFP模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的;

3.获取QSFP信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图:

image.png 

 

 

Ø PCIe测试

测试流程:

1.找准待测试PCIeTXRX信号测试点;

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上;

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得PCIe_RX/TX信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图:

image.png


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